主要性能指标
I-V 源测量单元 (SMU)
● ± 210 V/100 mA 或 ± 210 V/1 A 模块
● 100 fA 测量分辨率
● 选配前端放大器提供了 0.1 fA 测量分辨率 ● 10 mHz - 10 Hz 超低频率电容测量
● 四象限操作
● 2 线或 4 线连接
C-V 多频率电容单元 (CVU)
● AC 阻抗测量 (C-V, C-f, C-t)
● 1 kHz - 10 MHz 频率范围
● ± 30 V (60 V 差分 ) 内置 DC 偏置源，可以扩展到 ± 210 V (420 V 差分 )
● 选配 CVIV 多功能开关，在 I-V 测量和 C-V 测量之间简便切换
脉冲式 I-V 超快速脉冲测量单元 (PMU)
● 两个独立的或同步的高速脉冲 I-V 源和测量通道 ● 200 MSa/s，5 ns 采样率
● ±40 V (80 V p-p)，±800 mA
● 瞬态波形捕获模式
● 任意波形发生器 Segment ARB® 模式，支持多电平脉冲 波形，10 ns 可编程分辨率
高压脉冲发生器单元 (PGU)
● 两个高速脉冲电压源通道
● ±40 V (80 V p-p)，± 800 mA
● 任意波形发生器 Segment ARB® 模式，支持多电平脉冲波形，10 ns 可编程分辨率
I-V/C-V 多开关模块 (CVIV)
● 在 I-V 测量和 C-V 测量之间简便切换，无需重新布线或 抬起探针
● 把 C-V 测量移动到任意端子，无需重新布线或抬起探针
远程前端放大器 / 开关模块 (RPM)
● 在 I-V 测量、C-V 测量和超快速脉冲 I-V 测量之间自动 切换
● 把 4225-PMU 的电流灵敏度扩展到数十皮安
● 降低电缆电容效应
为材料、半导体器件和工艺开发提供最优秀的参数分析仪
使用强大的 Clarius 软件，可以更加快速的完成 I-V, C-V 和脉冲 I-V 测试，结果清晰明了
4200A-SCS 仪器和模块
提取或测量参数列表实例
1. Clarius Software
实时结果和参数
自动数据显示、算法分析和实时参数提取功能，加快获得所 需信息的速度。您不必担心数据丢失，因为所有历史数据都会保存下来。全新Clarius Software用户界面，您可以把对科研的理解提升到全新水平。4200A-SCS包括 Clarius+软件包，可以执行几乎任何类型的 I-V、C-V 和脉冲式 I-V特性分析测试。Clarius Software用户界面提供了触滑或点击控制功能，为现无需示波器检验脉冲测量代半导体、材料和工艺特性分析提供高级测试定义、参数分析、图表绘制和自动化功能。
主要特点
● 随时可以投入使用、可以修改的应用测试、项目和器件，缩短测试开发时间
● 业内第一台内置测量视频的仪器，测试视频由全球应用工程师提供，分为4种语言，缩短学习周期
● pin to pad接触检查，确保测量可靠
● 多种测量功能
● 数据显示、分析和代数运算功能
专家视频，降低特性分析复杂度
观看吉时利全球应用工程师制作的内置视频，迅速掌握应用，缩短学习周期。数小时的专家测量专业帮助，在发生意想不到的结果或对怎样设置测试存在疑问时，将为您提供指引。Clarius Software短专家视频支持四种语言(英语、中文、日语和韩语)，可以迅速让你洞察先机。
大量随时可以使用的应用测试可供选择
通过Clarius库中装备的450多项应用测试，您可以选择或修改预先定义的应用测试，加快特性分析速度，或从一开始简便地创建自定义测试。只需三步，Clarius Software就可以引导新用户像专家一样完成参数分析。
实时结果和参数
自动数据显示、算法分析和实时参数提取功能，加快获得所需信息的速度。您不必担心数据丢失，因为所有历史数据都会保存下来。
无需示波器检验脉冲测量
脉冲定时预览模式可以简便地查看脉冲定时参数，确认脉冲式I-V测试按希望的方式执行。使用瞬态I-V或波形捕获模式，进行基于时间的电流或电压测量，而无需使用外部示波器。
典型应用
MOSFET, BJT 晶体管
材料特性分析
非易失性存储设备
电阻率系数和霍尔效应测量
NBTI/PBTI
III-V 族器件
失效分析
纳米器件
二极管和 pn 联结
太阳能电池
传感器
MEMS器件
电化学
LED和OLED
构建测试方案
在Clarius库的450多种预先定义的应用测试和项目中搜索、过滤及选择所需测试项。典型应用
MOSFET, BJT 晶体管
材料特性分析
非易失性存储设备
电阻率系数和霍尔效应测量
NBTI/PBTI
III-V 族器件
失效分析
纳米器件
二极管和 pn 联结
太阳能电池
传感器
MEMS器件
电化学
LED和OLED
构建测试方案
在Clarius库的450多种预先定义的应用测试和项目中搜索、过滤及选择所需测试项。
