加利福尼亚州利弗莫尔，2018年6月18日(全球新闻)—半导体行业领先的电气测试和测量供应商FormFactor，Inc.(纳斯达克股票代码：FORM)今天宣布，该公司已为晶圆制造商部署了集成的CM300xi探测解决方案，硅光子(SiPh)器件的水平测试。GLOBALFOUNDRIES，FormFactor和Keysight的团队共同努力，以确保该系统具有灵活性，可以满足工程需求并在批量生产中提供高吞吐量。

硅光子技术可以使用光信号而不是电信号来高速传输大量数据。硅光子学市场正在数据中心，汽车和其他应用中获得增长动力，因为它允许使用硅半导体制造技术以低成本，降低功率和尺寸来制造光学设备。Inkwood Research的数据显示，2017年至2025年，全球硅光子学市场预计将以22.3%的复合年增长率增长。

FormFactor的Cascade CM300xi与Keysight Technologies的Photonics Application Suite测量软件相结合，提供了业界领先的自动对准以及同时进行光学和光电设备测试的功能。该系统的主要功能包括：

六轴自动光纤定位，可精确对准

粗略和精细对准的两阶段解决方案

光学对准算法与高速硬件控制集成在一起，以缩短测试时间

FormFactor的SiPh软件可简化与是德科技的Photonics应用套件和光学仪器的集成

定制的脚本和测试程序可优化系统，以实现快速，准确的测量

是德科技的高速，单扫描偏振相关损耗(PDL)测试，无需事先进行偏振对准即可进行高精度和可重复性测试。

GF产品，测试和故障分析副总裁Jeffrey Lam表示：“ GF的硅光子技术利用标准的硅制造技术来提高生产效率并降低部署光学互连系统的客户的成本。”“我们很高兴能够在部署新的测试功能方面走在前列，其中包括用于提高这项重要技术的晶圆级解决方案。”

是德科技公司网络与数据中心副总裁兼总经理Joachim Peerlings说：“凭借与FormFactor合作提供晶圆测量解决方案的悠久历史以及数十年的光子测试经验，我们很高兴为硅光子产业进一步配备设备。”“借助Keysight的Photonics应用套件和仪器，我们构建了一个经过验证的集成测量系统，该系统使客户能够快速开发测试例程，从而在研发和设计验证过程中对光电器件进行深入了解，并具有灵活性和可扩展性，以实现经济高效的高性价比。量产。”

硅光子学等新兴技术为FormFactor提供了开发完全集成的探针系统的机会。GF在采用这些新测试技术方面是具有前瞻性的公司。” FormFactor总裁兼首席执行官Mike Slessor说道。“我们与是德科技和GF新加坡的合作提供了一种解决方案，可以真正解决硅光子器件的独特测试和测量挑战。”

 

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